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12 Apr 12 HTC One S陶瓷表面外壳或存缺陷

HTC One S陶瓷表面外壳或存缺陷

微弧氧化(Micro-Arc Oxidation)是HTC在最新机型One S上应用的一项新技术,在上个月的推广视频中HTC表示通过在航空级铝合金表面加10000伏特强电压,可以创造一个非常薄的陶瓷表面,其强度是航空铝的3倍,不锈钢的5倍,以至于应用这项技术的手机根本不再需要任何外壳保护。但是一些用户却因此开始了索赔。

近日在国外XDA论坛上有用户贴出了HTC One S的照片,照片上显示手机顶部边缘有着明显的损坏,并且之后有很多用户表示自己的手机也出现了类似的问题,所有人都开始质疑HTC的质量检测环节。

HTC One S机身表面破损

HTC One S机身表面破损

虽然尚未正式这个问题是由于微弧氧化技术缺陷引起的,但是很多用户都觉得陶瓷表面无法稳固的与铝制机壳结合在一起,如果手机掉落或仅仅与其他物体正常解除时可能会导致陶瓷表层脱落。从用户的问题报告上看,目前只有黑色版本的HTC One S还没有类似的问题出现,而灰色和银色版本的机型都已经开始出现此问题。

HTC One S机身表面破损特写

HTC One S机身表面破损特写

HTC One S机身表面破损特写

HTC方面目前还没有对这个问题作出任何回应,对此我们会持续跟进。

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  1. |

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    P.S. Please review Black Hand Icons from Ikonaluk



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